日本理学波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪两款产品各有独自的优势，针对不同类的样品检测各有着长处之处，波长色散型X荧光光谱仪在分析上有着很高的精确度和精密度，能量色散型多数用去牌号的快速检测和筛选。下面从这两款光谱仪的原理与功能介绍它们之间的存的区别有哪些。

波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别 

1、原理区别

X-射线荧光光谱法,是用X-射线管发出的初 级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线 (X-荧光)。波长色散型荧光光仪(WD-XRF)是 用分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的 特征X-射线波长和强度，从而测定各元素的含 量。而能量色散型荧光光仪(ED-XRF)是借助高 分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散 的X-射线荧光按光子能量分离X-射线光谱线， 根据各元素能量的高低来测定各元素的量。由于 原理不同，故仪器结构也不同。

2、功能区别 

考虑到各种情况，能量色散型荧光仪和波长 色散型荧光仪的检测限基本相同。但在短波(高 能光子)范围内能量色散的分辨率好些，在长波 (低能光子)范围内，波长色散的分辨率好些。就 定性分析而言，总的来说还是能量色散法好，又 快又方便。就定量分析而言，在分析多种元素时 能量色散优于单道晶体谱仪。就测量个别分析元 素而言，波长色散好些。如果分析的元素事先不 知道，用能量色散较好，而分析元素已知则用多 道晶体色散仪好。对易受放射性损伤的样品，如 液体、有机物(可能发生辐射分解)、玻璃品、工 艺品(可能发生退色)等,用能量色散型荧光仪 分析特别有利。能量色散型荧光仪很适于动态系 统的研究。如在催化、腐蚀、老化、磨损、改性 和能量转换等与表面化学过程有关的研究。